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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
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分類
QT-3107 LCR RG/CG 測(cè)試

自研LCR數(shù)字電橋，支持Mosfet RG/CG測(cè)試，也可以用于測(cè)試二極管的電容測(cè)試，分辨率1fF



支持雙DIE

精度高抗干擾

測(cè)試速度快

擴(kuò)展2KV偏置

型號(hào) QT-3107
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 采用數(shù)字電橋，抗干擾能力強(qiáng)，測(cè)試精度高；
測(cè)試時(shí)間比模擬電橋快2-3倍；
偏置電壓最高2KV；
主要特點(diǎn) 測(cè)試分辨率1fF；
自帶±100V偏置源；
測(cè)試頻率：1MHz，擴(kuò)展2MHz；
輸出幅度：0.025-2V;




Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)