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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測(cè)試 IC測(cè)試系統(tǒng)
分類
 
QT-8100HP 模擬IC測(cè)試系統(tǒng) (Cable-Mount)

常規(guī) DC、AC 參數(shù)測(cè)試、分立元件 Wafer 多 site 和 IC 功能性測(cè)試 主要測(cè)試：電源管理類，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類，音訊放大器、高速光耦、運(yùn)算放大器、小功率分立裝置等



懸浮電源

多Site並行

多通道高精度

支援多種擴(kuò)展

型號(hào) QT-8100HP
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) ? 20 個(gè)類比插槽（Max 216通道）/ 2 個(gè)數(shù)位插槽（ Max 32通道）
? 懸浮V/I源，四象限
? 由測(cè)試盒引出全資源，8site並測(cè)
? 數(shù)位速率100Mhz，向量深度8M
? 真並測(cè)，多路1000V/20A高壓大電流
? 18 bit 高精密採(cǎi)樣
? 多通道高精度時(shí)間測(cè)量單元，支援ns等級(jí)時(shí)間測(cè)量
? PCIE 卡測(cè)試效率更高




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