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第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 功率器件測試系統(tǒng)
分類
 
QT-3101 UIL 雪崩測試

QT-3101 UIL 雪崩測試適用於測試MOSFET、IGBT、二極體的雪崩參數(shù)



支援雙DIE

快速充電

失效波形保存

鉗壓功能

型號 QT-3101 UIL
產(chǎn)品優(yōu)勢 支援VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I)測試
內(nèi)建示波器
極限能量掃描測試
可設(shè)定單脈衝、多重脈衝或雙MOSFET測試
可與QT-4100B共用一臺電腦，實現(xiàn)測試程式與資料統(tǒng)一管理
主要特點 ? 輸出測量能力：最大測量BVdss:±3000V最大輸出ID:±150V 、±200A
? 可編輯VG MAX:±30V脈寬調(diào)節(jié)（解析度：1us）
? 可程式電感箱負載10μH-159.9mH步進10μH
? 可程式分選機介面訊號24個

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