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第三代
半導(dǎo)體測試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 功率器件測試系統(tǒng)
分類
 
QT-4100 綜合測試系統(tǒng)

適用於三極管、二極體、齊納二極體、MOS-FET（IGBT、SIC 氮化鎵）、J-FET、Current Sense FET、LDO（78XX、79XX、TL431、TL432常規(guī)測試）、光電耦合器等產(chǎn)品及晶 圓。 可擴充：可控矽測試、SCANBOX、Dual Gate-FET、Q Plus 、三極管開關(guān)時間（TST， TR ，TF， TON）、熱阻測試（DVDS， DVCE， DVBE，DVF）等



限壓限流

高精度Rdon測試

模組化功能

多站資料合併

型號 QT-4100 綜合測試系統(tǒng)
產(chǎn)品優(yōu)勢 測量防呆：電壓、電流測量自動自檢，異常自動報警停機測量防呆：電壓、電流測量自動自我檢測，異常自動警報停機
LOW RDON
快速自我檢測：無需外接負(fù)載，2分鐘完成自我檢測
第三人校準(zhǔn)：採用Agilent 34401A進(jìn)行校準(zhǔn)
內(nèi)建示波器功能
支援多工位設(shè)備數(shù)據(jù)合併
主要特點 ? 繼電器3ms；
? 限壓限流保護(hù)；
? 支援?dāng)U展EAS，LCR，熱阻，SW，TRR，QG；
? 填表式程式設(shè)計；
? 支援PAT功能；
? 具備SECS/GEM標(biāo)準(zhǔn)介面


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