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第三代
半導(dǎo)體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
 
聯(lián)動(dòng)科技亮相SEMICON SEA 2025，多款測(cè)試系統(tǒng)引關(guān)注！


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       2025 年?yáng)|南亞半導(dǎo)體展（SEMICON SEA 2025）盛大舉行，聯(lián)動(dòng)科技在此次展會(huì)上大放異彩。其重點(diǎn)展示了功率器件、SIC KGD、功率模塊、晶圓測(cè)試、數(shù)?；旌系榷嗫钕冗M(jìn)測(cè)試系統(tǒng)。

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       功率器件測(cè)試系統(tǒng)憑借精準(zhǔn)的性能評(píng)估，適用于各類功率器件的檢測(cè)。SIC KGD 測(cè)試系統(tǒng)則聚焦碳化硅材料，助力提升器件的可靠性和穩(wěn)定性；功率模塊測(cè)試系統(tǒng)提供行業(yè)領(lǐng)先技術(shù)的動(dòng)靜態(tài)測(cè)試方案，保障模塊在實(shí)際交付的性能；晶圓測(cè)試系統(tǒng)高效完成芯片早期性能篩選，多site并測(cè)解決方案，提高生產(chǎn)交付效率；數(shù)?；旌蠝y(cè)試系統(tǒng)集成多種功能測(cè)試技術(shù)，滿足復(fù)雜芯片測(cè)試需求。



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        聯(lián)動(dòng)科技憑借這些先進(jìn)的測(cè)試系統(tǒng)，與眾多行業(yè)伙伴深入交流，為推動(dòng)半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)業(yè)的革新和發(fā)展貢獻(xiàn)了重要力量。